2023年6月15日，卓立漢光集團(tuán)董磊副總經(jīng)理帶領(lǐng)研發(fā)團(tuán)隊(duì)拜訪南京大學(xué)陳洪淵院士團(tuán)隊(duì)，在南京大學(xué)仙林校區(qū)化學(xué)樓隆重舉行了“一種飛秒干涉散射顯微成像系統(tǒng)及測(cè)量方法”專利轉(zhuǎn)讓的簽約儀式。

該發(fā)明專利公開了一種飛秒干涉散射顯微成像系統(tǒng)及測(cè)量方法，結(jié)合了超快光譜技術(shù)和干涉散射顯微成像技術(shù)，利用部分反射空間濾波器調(diào)制干涉光場(chǎng)，顯著提高了瞬態(tài)信號(hào)強(qiáng)度，有利于測(cè)量極微弱的瞬態(tài)信號(hào)。相比于傳統(tǒng)超快成像技術(shù)，具有速度快、高通量、大視野、兼容性好、不需要鎖相和多像素同時(shí)測(cè)量等優(yōu)勢(shì)。卓立漢光集團(tuán)將引入該專利用于開發(fā)的寬場(chǎng)飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)TAM900，為研究載流子時(shí)空演化過(guò)程提供變革性研究工具。該系統(tǒng)可用于太陽(yáng)能電池、低維材料、量子器件、超導(dǎo)材料、新型半導(dǎo)體、納米催化、生物傳感等材料及器件的前沿研究，對(duì)納米尺度和飛秒時(shí)空尺度中的超快的物理、化學(xué)及生物過(guò)程進(jìn)行監(jiān)測(cè)。此外，該專利技術(shù)將用于擴(kuò)展卓立漢光集團(tuán)現(xiàn)有光電測(cè)試與光譜系統(tǒng)的開發(fā)，為半導(dǎo)體的研究提供更多的測(cè)試方法。陳洪淵院士是我國(guó)著名的分析化學(xué)家，幾十年來(lái)帶領(lǐng)團(tuán)隊(duì)攻堅(jiān)克難，為我國(guó)分析化學(xué)學(xué)科的發(fā)展尤其是高端分析儀器的研發(fā)，做出了卓越的貢獻(xiàn)。會(huì)談中陳院士強(qiáng)調(diào)：“沒有自己創(chuàng)新出來(lái)的儀器設(shè)備很難獲得突破性、變革性的成果。如果我們的科學(xué)儀器（包括分析儀器）產(chǎn)業(yè)不及時(shí)趕上，不僅影響科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，亦必將危及經(jīng)濟(jì)甚至國(guó)家安全。”陳院士心系我國(guó)科技儀器行業(yè)的發(fā)展，對(duì)卓立漢光近年來(lái)在自主研發(fā)光譜儀器系統(tǒng)方面所取得的喜人成績(jī)表示祝賀。同時(shí)，陳院士勉勵(lì)卓立漢光要有“卓越的立在世界的東方”的勇氣和魄力，貫徹好、執(zhí)行好習(xí)總書記“打好科技儀器設(shè)備國(guó)產(chǎn)化攻堅(jiān)戰(zhàn)”的指示，并向董磊副總經(jīng)理贈(zèng)送了自己親筆簽名的學(xué)術(shù)專著。

近年來(lái)，卓立漢光注重自主創(chuàng)新對(duì)中長(zhǎng)期持續(xù)發(fā)展的引領(lǐng)作用。堅(jiān)定以“創(chuàng)新賦能、技術(shù)驅(qū)動(dòng)”作為企業(yè)重要發(fā)展戰(zhàn)略，聚焦前瞻技術(shù)與產(chǎn)業(yè)應(yīng)用，始終不渝堅(jiān)持自主民族品牌發(fā)展路線，強(qiáng)調(diào)產(chǎn)品技術(shù)前瞻與質(zhì)量可靠性并重的產(chǎn)品理念。本次卓立漢光和陳院士團(tuán)隊(duì)的技術(shù)轉(zhuǎn)化，是卓立漢光在校企合作新模式上的探索和嘗試。未來(lái)卓立漢光將繼續(xù)加大自主創(chuàng)新的研發(fā)投入，進(jìn)一步加強(qiáng)與高校、研究院所的多維度合作，構(gòu)筑科研成果向儀器設(shè)備轉(zhuǎn)化的快速路。研制中國(guó)人自己的高端分析測(cè)試儀器，為我國(guó)科技儀器設(shè)備的國(guó)產(chǎn)化，以及科研事業(yè)發(fā)展提供技術(shù)支撐和設(shè)備保障。

Omni-TAM900寬場(chǎng)飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)

Omni-TAM900為北京卓立漢光儀器有限公司全新推出的一款寬場(chǎng)飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)。該系統(tǒng)集成像和動(dòng)力學(xué)于一體，聯(lián)合飛秒泵浦-探測(cè)技術(shù)和顯微技術(shù)，通過(guò)自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的干涉放大技術(shù)增強(qiáng)圖像信噪比，可獲得高質(zhì)量的成像效果并大幅度縮短測(cè)試時(shí)間。